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电池行业测试计划

台湾Chroma 8020 配接器/充电器主动测试体系

  • 产物(wu)概述: Chroma 8020 测试体系已针对业界的新测试需要,扩大硬体与增添新的测试名目比方合适Energy Star请求的均匀效力测试等。另针对业界将来的新测试需要,可弹性插手具备报表建造、统计阐发和办理功效的Chroma 8020测试体系软体,可以或许发生各类测试报表,停止体系办理,知足古代化品保和出产线的需要。别的,此体系也能与建造资讯体系(Shop-Floor System)连线,以节制出产流程。
  • 型号规格: 8020

Chroma 8020 配接(jie)器/充(chong)(chong)电器主动测(ce)(ce)(ce)试(shi)(shi)体系(xi)(xi)是在(zai)出产(chan)线上测(ce)(ce)(ce)试(shi)(shi)配接(jie)器与充(chong)(chong)电器的最好测(ce)(ce)(ce)试(shi)(shi)体系(xi)(xi),8020可增援同时一次测(ce)(ce)(ce)试(shi)(shi)多(duo)颗待测(ce)(ce)(ce)物(wu),大幅晋升(sheng)出产(chan)线产(chan)能,并且(qie)兼具(ju)Chroma 8000体系(xi)(xi)矫捷(jie)的硬体架构,可挑(tiao)选(xuan)多(duo)种硬体比方(fang)交换电源(yuan)供给器、电子负载(zai)、时序/杂讯阐发仪(yi)、功率表(biao)等(deng)。

8020出(chu)(chu)格针对(dui)配接器与充电(dian)器特征,量身订作并优(you)化标准测(ce)试名目,测(ce)试效力佳,合(he)适(shi)(shi)大批(pi)出(chu)(chu)产请求,别(bie)的,软(ruan)体功(gong)效操纵(zong)简略,轻易利用,合(he)适(shi)(shi)出(chu)(chu)产线需(xu)要。

Chroma 8020 测(ce)试(shi)体系(xi)已(yi)针(zhen)对业界的(de)新测(ce)试(shi)需(xu)要,扩大硬体与增添新的(de)测(ce)试(shi)名目比(bi)方合适Energy Star请求的(de)均匀(yun)效(xiao)力测(ce)试(shi)等。另针(zhen)对业界将来(lai)的(de)新测(ce)试(shi)需(xu)要,可弹性插手具备(bei)报(bao)表建(jian)(jian)造、统计阐发和办理功效(xiao)的(de)Chroma 8020测(ce)试(shi)体系(xi)软体,可以或许(xu)发生各类测(ce)试(shi)报(bao)表,停止体系(xi)办理,知足古代化品保和出产线(xian)的(de)需(xu)要。别的(de),此体系(xi)也能与建(jian)(jian)造资(zi)讯体系(xi)(Shop-Floor System)连线(xian),以节(jie)制出产流(liu)程。

Chroma 8020 主(zhu)动测试体(ti)系(xi)运(yun)转于(yu)Windows7/10以上的功课情况下,在简略易学的Windows情况下为测试工程师供给公用的电源测试体(ti)系(xi),并(bing)且便利(li)利(li)用Windows资本。

 优化(hua)的测试名目

Chroma 8020主动测(ce)(ce)(ce)(ce)试(shi)体系装(zhuang)备(bei)了(le)针看待测(ce)(ce)(ce)(ce)物(配接器/充(chong)电(dian)(dian)器)特征(zheng)优化后之标准(zhun)测(ce)(ce)(ce)(ce)试(shi)名目(mu),利用者只要在(zai)标准(zhun)测(ce)(ce)(ce)(ce)试(shi)名目(mu)上界说测(ce)(ce)(ce)(ce)试(shi)前提和测(ce)(ce)(ce)(ce)试(shi)规格便(bian)可测(ce)(ce)(ce)(ce)试(shi)。优化后的测(ce)(ce)(ce)(ce)试(shi)名目(mu)涵盖了(le)7类(lei)电(dian)(dian)源(yuan)(yuan)测(ce)(ce)(ce)(ce)试(shi)请求:输(shu)(shu)入特征(zheng)(Output Performance)检(jian)测(ce)(ce)(ce)(ce)待测(ce)(ce)(ce)(ce)物的普通机(ji)(ji)能(neng)、输(shu)(shu)入特征(zheng)(Input Characteristic)检(jian)测(ce)(ce)(ce)(ce)电(dian)(dian)源(yuan)(yuan)的输(shu)(shu)入参数、不变度测(ce)(ce)(ce)(ce)试(shi)(Regulation Tests)检(jian)测(ce)(ce)(ce)(ce)待测(ce)(ce)(ce)(ce)物在(zai)输(shu)(shu)入电(dian)(dian)源(yuan)(yuan)和负载变更时的不变性、时序和瞬态(Timing & Transient)丈(zhang)量开机(ji)(ji)及(ji)(ji)关机(ji)(ji)时的刹时状况及(ji)(ji)各事务的时候、掩(yan)护测(ce)(ce)(ce)(ce)试(shi)(Protection Tests)触发电(dian)(dian)源(yuan)(yuan)的掩(yan)护电(dian)(dian)路、出格测(ce)(ce)(ce)(ce)试(shi)(Special Tests)和出格功效(xiao)(Special Features)供给了(le)测(ce)(ce)(ce)(ce)试(shi)电(dian)(dian)源(yuan)(yuan)的出格功效(xiao)与体例。

输入特征测试

  1. 直流输入电(dian)压

  2. 直流(liu)输入(ru)电流(liu)

  3. 直流输入功(gong)率

  4. 峰对峰值噪声(sheng)

  5. 有用值噪声

  6. 效(xiao)力

  7. 测(ce)试中调剂

  8. 过冲电压

输入端特征测试(shi)

  1. 涌浪(lang)电流(liu)测试

  2. 输入有用值电(dian)流(liu)

  3. 输入功率

  4. 输入功(gong)率身(shen)分

  5. 输入(ru)断电测试(shi)

  6. 输入电压缓升/降测试

不变度测试(shi)

  1. 电压不变(bian)度

  2. 负(fu)载不变(bian)度

  3. 电压/负载整(zheng)合不变度

  4. 静态负载(zai)不变度

  5. 同步静(jing)态负载不变度

时序(xu)和刹时特征测试

  1. 开机时序

  2. 回升时候

  3. 降(jiang)落时(shi)候

  4. 关(guan)机(ji)时(shi)候

掩护特征测试

  1. 短路(lu)测试

  2. 过载掩护

  3. 过电(dian)压掩护

出格测试

  1. 均匀效力测(ce)试

  2. ID pin 讯(xun)号量(liang)测

  3. Quick Charge 2.0 考证测试(shi)

  4. Pump Express 充电器测试

出格功效(xiao)

  1. TTL旌(jing)旗灯号节制

  2. 继电(dian)器节制



 主动测试(shi)体(ti)系软件平(ping)台

Chroma 8020主动测试体系(xi)的软件(jian)(jian)平台(tai),出(chu)格针对出(chu)产(chan)在线利(li)用所需(xu),全部软件(jian)(jian)功效(xiao)操纵简(jian)略。Chroma 8020主动测试体系(xi)的软件(jian)(jian)运转于Windows7/10以上的功课情(qing)况,为其供给了须要(yao)的核心撑持。

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 手机(ji)充(chong)电器共模噪声量(liang)测处理(li)计划

研讨(tao)发明智能(neng)型手机利用电(dian)容屏的多(duo)点触(chu)控(kong)(kong)(kong)屏幕,在充电(dian)进程中来自AC-DC充电(dian)器(qi)所发生(sheng)的共模噪声电(dian)压突波在触(chu)控(kong)(kong)(kong)时进入(ru)面板,严峻影响触(chu)控(kong)(kong)(kong)机能(neng),常致使触(chu)控(kong)(kong)(kong)读取不精确或形成假(jia)性(xing)触(chu)控(kong)(kong)(kong)讯号,因此手机厂商协(xie)力拟定IEC62684标准(zhun),标准(zhun)电(dian)池(chi)充电(dian)器(qi)的噪声频谱规格。

IEC62684 MoU标准标准界(jie)说了(le)步履装(zhuang)配充电器的(de)共(gong)(gong)模(mo)噪声(sheng)的(de)构成成份(fen)、规格限(xian)值(zhi)与量(liang)测(ce)(ce)设置(zhi)倡议,致茂(mao)电子共(gong)(gong)模(mo)噪声(sheng)测(ce)(ce)试处理(li)计划合(he)适IEC62684标准请求且能(neng)疾速不变(bian)地停(ting)止充电器共(gong)(gong)模(mo)噪声(sheng)量(liang)测(ce)(ce);Chroma 80611 时序/噪声(sheng)阐发仪(yi)内建4Mhz低通滤(lv)波(bo)器,可(ke)滤(lv)除<250ns高(gao)频noise,合(he)适可(ke)疏(shu)忽<250ns高(gao)频noise的(de)量(liang)测(ce)(ce)请求,搭配Chroma 8020体系到(dao)达主动化(hua)测(ce)(ce)试,知足产(chan)线疾速量(liang)产(chan)测(ce)(ce)试需要。

充电器共(gong)模噪(zao)声(sheng)根(gen)基(ji)测(ce)试架构

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装备型号利用
输入源Chroma 6500/61600/61500 AC SourceIEC62684标准请求测试输入电压253Vac/50Hz
高通滤波器Chroma设想滤除50Hz基频涟波成份,且不会形成高频noise衰减失真
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▲ 上述(shu)波形CH2含50Hz基频涟波成份,CH1为经HPF滤波后,不(bu)形成高频noise衰减(jian)或(huo)失真
共模噪声量测仪Chroma 80611时序/噪声阐发仪内建4MHz LPF可滤除<250ns高频noise,合适IEC62684标准请求
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与示(shi)波度量测比拟

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Chroma 80611 时序/噪声(sheng)阐发仪接纳摹(mo)拟电路量(liang)测(ce)(ce)(ce)体例利用于敏感的共模噪声(sheng)量(liang)测(ce)(ce)(ce),可有用解除(chu)不(bu)不(bu)变、不(bu)持续等非预期的搅(jiao)扰突波,不(bu)变准(zhun)确的量(liang)测(ce)(ce)(ce)共模噪声(sheng);别的Chroma 80611的差模量(liang)测(ce)(ce)(ce)架构有别于示(shi)波器(qi)共地(di)架构,可防止(zhi)在multi-UUT测(ce)(ce)(ce)试(shi)时,待测(ce)(ce)(ce)物输入共地(di)形成噪声(sheng)特征彼此(ci)影响题目。

示波器因此(ci)Digitizing体例量(liang)测(ce),会量(liang)测(ce)一切screen上或cursor内的(de)(de)max峰值,包含(han)不持续/不不变的(de)(de)噪声(sheng),及并(bing)非待测(ce)物自身特征发生的(de)(de)不想要(yao)量(liang)测(ce)到外(wai)来的(de)(de)搅扰噪声(sheng)。

功效(xiao)规格Chroma 80611示波器
Resolution400mV/15bit
2V/14bit
8bit
内存长度参数设定影响量测精准度与测试时候
一次测试多颗待测物测试速率可同时读取一切通道量测数值只能单通道各异量测,一一读取量测数值
通道数(台)Chroma 80611: 10CH
Chroma 80614: 4CH
普通示波器(4CH)不external trig埠,量测时序时,必需就义一个信道接AC source transition讯号
量测架构差模量测:Multi-UUT同时测试时,可防止待测物noise特征彼此耦和搅扰共模量测:待测物输入共地,能够形成输入特征彼此影响

电源主动测试体系软件版本与Windows版本对(dui)比表

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